atomik kuvvet afm mikroskobu
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), yalıtkanlar da dahil olmak üzere katı malzemelerin yüzey yapısını incelemek için kullanılabilecek analitik bir alettir.Test edilecek numunenin yüzeyi ile mikro kuvvete duyarlı bir element arasındaki son derece zayıf atomlar arası etkileşimi saptayarak bir maddenin yüzey yapısını ve özelliklerini inceler.Bir çift zayıf kuvvet son derece hassas mikro konsol ucu sabitlenecek, küçük ucun diğer ucu numuneye yakın olacak, daha sonra onunla etkileşime girecek, kuvvet mikro konsol deformasyonunu veya hareket durumunu değiştirecektir.Numuneyi tararken, sensör bu değişiklikleri tespit etmek için kullanılabilir, nano-çözünürlük bilgisinin yüzey morfolojisini ve yüzey pürüzlülüğü bilgilerini elde etmek için kuvvet bilgisi dağılımını alabiliriz.
★ Entegre tarama probu ve örnek geyik, parazit önleme özelliğini geliştirdi.
★ Hassas lazer ve prob konumlandırma cihazı, probu değiştirmeyi ve noktayı ayarlamayı basit ve kullanışlı hale getirir.
★ Numune probu yaklaşma şeklini kullanarak, iğne numune taramasına dik olabilir.
★ Tarama alanının hassas konumlandırılmasını sağlamak için otomatik darbeli motor sürücü kontrolü numune probu dikey yaklaşıyor.
★ Numune tarama ilgi alanı, yüksek hassasiyetli numune mobil cihazının tasarımı kullanılarak serbestçe hareket ettirilebilir.
★ Optik konumlandırmaya sahip CCD gözlem sistemi, prob numunesi tarama alanının gerçek zamanlı olarak gözlemlenmesini ve konumlandırılmasını sağlar.
★ Modülerleştirmenin elektronik kontrol sisteminin tasarımı, devrenin bakımını ve sürekli iyileştirilmesini kolaylaştırdı.
★ Çoklu tarama modu kontrol devresinin entegrasyonu, yazılım sistemi ile işbirliği.
★ Basit ve pratik geliştirilmiş anti-parazit özelliği olan yaylı süspansiyon.
| Çalışma modu | FM-Tapping, isteğe bağlı temas, sürtünme, faz, manyetik veya elektrostatik |
| Boyut | Φ≤90mm,H≤20mm |
| tarama aralığı | 20 dakika XYyönü,Z yönünde 2 mm. |
| tarama çözünürlüğü | XY yönünde 0.2nm,Z yönünde 0.05nm |
| Numunenin hareket aralığı | ±6.5mm |
| Motor yaklaşımlarının darbe genişliği | 10±2 ms |
| Görüntü örnekleme noktası | 256×256,512×512 |
| optik büyütme | 4X |
| optik çözünürlük | 2,5 mm |
| tarama hızı | 0,6Hz~4,34Hz |
| Tarama açısı | 0°~360° |
| tarama kontrolü | XY yönünde 18 bit D/A,Z yönünde 16 bit D/A |
| Veri örnekleme | 14-bitA / D,double16-bit A/D çok kanallı senkron örnekleme |
| Geri bildirim | DSP dijital geri besleme |
| Geri besleme örnekleme oranı | 64.0KHz |
| bilgisayar arayüzü | USB2.0 |
| Çalışma ortamı | Windows98/2000/XP/7/8 |